優(yōu)爾鴻信電子檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試能力涵蓋電子零件檢測(cè)、電子模組檢測(cè)、信號(hào)完整性測(cè)試、汽車(chē)車(chē)載電子檢測(cè)、ISO16750測(cè)試、電子元器件失效分析等。配備有FIB、工業(yè)CT、激光開(kāi)封機(jī)、ESD靜電測(cè)試儀、信號(hào)分析儀、TDR等設(shè)備，支持各電子元器件及產(chǎn)品之測(cè)試。有大量筆記本、車(chē)載中控、手機(jī)等檢測(cè)案例，測(cè)試能力全面且經(jīng)驗(yàn)扎實(shí)。

通信行業(yè)是 TDR測(cè)試 技術(shù)的重要應(yīng)用領(lǐng)域，涵蓋了從有線到無(wú)線、從基站到終端的測(cè)試需求。5G毫米波基站PCB對(duì)阻抗精度要求達(dá)±1%，對(duì)PCB阻抗精度要求很高。射頻PCB、天線設(shè)計(jì)都需要特性阻抗測(cè)試。

TDR 測(cè)試的流程

發(fā)射脈沖信號(hào)：測(cè)試儀器（時(shí)域反射計(jì)）向傳輸線一端發(fā)射一個(gè)快速上升沿的窄脈沖信號(hào)；

信號(hào)傳輸與反射：脈沖信號(hào)沿傳輸線勻速傳播，若傳輸線阻抗均勻，信號(hào)無(wú)反射，全部向前傳輸；若遇到阻抗突變點(diǎn)（如斷點(diǎn)、短路、材質(zhì)差異、接頭接觸不良），部分信號(hào)會(huì)被反射回發(fā)射端；

接收與分析反射信號(hào)：儀器接收反射信號(hào)，通過(guò)計(jì)算 “脈沖發(fā)射時(shí)間" 與 “反射信號(hào)接收時(shí)間" 的差值，結(jié)合信號(hào)傳播速度，可精準(zhǔn)定位阻抗突變點(diǎn)的位置；同時(shí)通過(guò)反射信號(hào)的幅度、極性，判斷突變點(diǎn)的阻抗變化類(lèi)型（如開(kāi)路、短路、阻抗偏高 / 偏低）。

特性阻抗測(cè)試的重要意義

保障信號(hào)完整性：在高速數(shù)字電路和射頻系統(tǒng)中，阻抗不連續(xù)會(huì)導(dǎo)致信號(hào)反射，增加噪聲和抖動(dòng)，影響系統(tǒng)性能。

優(yōu)化工藝控制：在PCB制造過(guò)程中，通過(guò)特性阻抗測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)工藝波動(dòng)，優(yōu)化制造參數(shù)。

定位異常點(diǎn)：TDR測(cè)試能夠快速定位阻抗異常點(diǎn)，大大縮短調(diào)試時(shí)間。

適用對(duì)象：

同軸電纜（如 5G 基站饋線、衛(wèi)星通信電纜）、雙絞線（Cat5e/Cat6/Cat7 網(wǎng)線）、數(shù)據(jù)中心光纖跳線、海底通信電纜；光模塊、路由器 / 交換機(jī)背板走線、基站天線傳輸線等

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61196-1-116:2015：同軸通信電纜電氣試驗(yàn)方法，詳細(xì)規(guī)定 TDR 測(cè)量阻抗的測(cè)試系統(tǒng)、校準(zhǔn)和程序，是電纜阻抗測(cè)試的核心標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62783-1-1:2022：數(shù)字通信雙軸電纜時(shí)域測(cè)試方法，規(guī)定 TDR 模式采用開(kāi)路校準(zhǔn)確定基準(zhǔn)點(diǎn)

IEC 62783-1-2:2025：雙絞線電纜時(shí)域阻抗測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，定義差分模式、共模、奇模和偶模四種阻抗類(lèi)型測(cè)試方法

GB/T 17737.116-2015：等同采用 IEC 61196-1-116，規(guī)定同軸通信電纜 TDR 阻抗測(cè)試方法